JEOL.- APLICACIONES GENERALES DE LA MICROSCOPIA ELECTRÓNICA Y AVANCES EN SU INSTRUMENTACIÓN. M.C. Martín Palacios Dorado.
Especialista en Aplicaciones Latinoamérica.
Jeol de México S.A. de C.V.
e-mail: enriquez@jeol.com.mx.
FEI.- NUEVAS HERRAMIENTAS EN LA BÚSQUEDA DE LA TERCERA DIMENSIÓN.
Fernando Mendoza –
FEI Company, Eindhoven, The Netherlands.
e-mail: fernando.mendoza@fei.com.